Карманный тестер для транзисторов

Тестер "GO/NO GO” (Годен/Негоден) показывает относительное состояние транзисторов типов n-р-n и р-n-р, однопереходных и полевых транзисторов с МОП-структурой (MOSFET) с 2 затворами. Схема не пригодна для испытаний НЧ-транзисторов или мощных ВЧ-транзисторов. Кварцевый резонатор (кварц) в схеме подключен постоянно.

Подходит любой кварц высокой частоты для работы в режиме основной гармоники. За выпрямленными колебаниями генератора высокой частоты можно наблюдать на приборе M1. С помощью переключателя S1 могут выбираться полярность питающей батареи в зависимости от тестирования n-канального полевого или биполярного n-p-n-транзисторов, либо p-канального полевого или p-n-p-транзисторов. Когда проверяемое изделие имеет обрывы, короткие замыкания или увеличенные токи утечки, схема не генерирует колебаний и стрелка прибора M1 не отклоняется.

Чем выше амплитуда, тем больше усиление транзистора на рабочей частоте. Если испытываются полевые МОП-транзисторы, затвор которых не обладает защитой от статического электричества, выводы транзистора должны оставаться так долго замкнутыми накоротко, пока тестируемый транзистор не помещен в панельку, а перед выниманием его из панельки выводы опять должны быть замкнуты. Диоды используются типа 1N34A или эквивалентные.