Характериограф для тестирования компонентов схем

Применяя представленную схему характериографа, нет необходимости вынимать компоненты из схемы, один за другим, с целью их тестирования. Напряжения и токи, которые используются при тестировании, достаточно малы почти для всех собранных на полупроводниках схем.

Компоненты могут испытываться на короткие замыкания и обрывы. Устройство с помощью подключаемого осциллографа позволяет наглядно тестировать переходы транзисторов и диодов в прямом и обратном направлении. Фигуры Лиссажу и другие комбинируемые отображения в осциллографе позволяют проводить анализ схем с реактивными компонентами, транзисторами и микросхемами.

Определяются холодные пайки, прохождение сигналов по переключателям, лампам и токопроводящим дорожкам. Индикация представляет собой прямые линии (аналогично часовым стрелкам), иногда ломаные и овалы. Вертикальные линии означают короткое замыкание, горизонтальные — обрыв, косые — некоторые сопротивления, вертикальный овал — индуктивность, а горизонтальный— емкость.

Индикация из ломаных линий для наилучших диодов и транзисторов соответствует ”3 часам" на часах, для пригодных транзисторов — 4, а плохих транзисторов — 5. При наличии заведомо работоспособной схемы можно выполнять сравнение характеристик в точках схемы с характеристиками в аналогичных точках тестируемой схемы.